参数项 技术指标
符合标准 ISO 4287、ISO 4288、ISO 11562
粗糙度参数 Wenzel方程粗糙度因子r、粗糙度校正接触角θc、3D参数Sdr/Sa/Sq、2D参数Ra/Rq/Rp/Rv/Rz/R10z
滤波方式 高斯高通滤波器（ISO 11562）
成像选项 光学图像、2D粗糙度图、3D粗糙度图

该仪器的核心特点是将接触角测量与3D表面形貌分析联用，通过同步获取液滴轮廓和样品表面粗糙度数据，可基于Wenzel/Cassie-Baxter模型对粗糙表面的接触角进行校正，从而更准确地评估材料的真实润湿性。

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