样品要求：1、透射电镜不做磁性样品；2、对于粉末样品，要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥，能够区分支持膜正反面；3、对于块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度为200nm以下；4、 高分辨样品要求厚度在10nm以下。

主要应用于对各种材料内部微结构进行观察 粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察 选区电子衍射和晶体结构分析 金属、陶瓷、半导体、塑料、等显微结构分析 配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析，以及各种元素进行定性和半定量微区分析，选择特定设计的样品台进行原位动态实验。

200kV场发射透射电镜主机；样品杆(单倾+双倾)；扫描透射附件STEM系统；高角环状暗场探头(HAADF)；能谱仪系统(EDAX)；伸缩式超薄窗能谱仪探测器；
CCD数字相机系统(Gatan 832)；原位加热/加电样品杆（DENS）